影響膜厚測試儀性能的因素

        膜厚測試儀是常見的一種設備鍍層黄色网站草莓视频工具，采用磁性測厚法，可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性鍍層的厚度，因此膜厚測試儀受到很多廠商的追捧。但是影響膜厚測試儀的因素很多人無從得知，進而本文將進行具體介紹影響膜厚測試儀性能的因素：

iEDX-150WT膜厚測試儀

        一、基體金屬磁化

        因為膜厚測試儀磁性法測量受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應使用與鍍件金屬具有相同性質的鐵基片上對儀器進行校對。並且每一種膜厚測試儀都有一個基體金屬的臨界厚度，大於這個厚度測量就不受基體厚度的影響。

        二、邊緣效應

        由於膜厚測試儀對試片表麵形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內轉角處進行測量不可靠。所以膜厚測試儀的曲率對測量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應在試件超過允許的曲率半徑的彎曲麵上測量。

        三、表麵粗糙度

        基體金屬和表麵粗糙度對膜厚測試儀測量有影響。粗糙表麵會引起係統誤差和偶然誤差。每次測量時，在不同位置上增加測量的次數，克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未塗覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對儀器零點。

        四、磁場

        周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會幹擾膜厚測試儀測量厚度的工作。並且膜厚測試儀對那些妨礙探頭與覆蓋層表麵緊密接觸的附著物質敏感。因此必須清除附著物質，以保證探頭與覆蓋層表麵直接接觸。值得注意的是在測量中使探頭與試樣表麵保持垂直。

        以上幾個因素都會影響膜厚測試儀的性能，用戶需要格外注意。另外，深受廠商喜愛的膜厚測試儀采用單片機技術，精度高、數字顯示、示值穩定、功耗低、操作簡單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測量、體積小、重量輕，且具有存儲、讀出、統計和低電壓指示準等特點。