掃描電鏡與透射電鏡的區別

　　掃描電鏡和透射電鏡這兩種設備都使用電子來獲取樣品的圖像，它們的主要組成部分是相同，下麵就介紹一下兩者之間的區別

SS-150掃描電鏡

　　一、掃描電鏡的特點

　　和光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點：

　　(一) 能夠直接觀察樣品表麵的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。

　　(二) 樣品製備過程簡單，不用切成薄片。

　　(三) 樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。

　　(四) 景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。

　　(五) 圖象的放大範圍廣，分辨率也比較高。可放大十幾倍到幾十萬倍，它基本上包括了從放大鏡、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大範圍。分辨率介於光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3nm。

　　(六) 電子束對樣品的損傷與汙染程度較小。

　　(七) 在觀察形貌的同時，還可利用從樣品發出的其他信號作微區成分分析

　　透射電鏡是以電子束透過樣品經過聚焦與放大後所產生的物像， 投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察。透射電鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數為幾萬～幾十萬倍。由於電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，必須製備更薄的超薄切片（通常為50～100nm）。其製備過程與石蠟切片相似，但要求極嚴格。要在機體死亡後的數分鍾釣取材，組織塊要小(1立方毫米以內），常用戊二醛和餓酸進行雙重固定樹脂包埋,用特製的超薄切片機（ultramicrotome）切成超薄切片，再經醋酸鈾和檸檬酸鉛等進行電子染色。

　　電子束投射到樣品時，可隨組織構成成分的密度不同而發生相應的電子發射，如電子束投射到質量大的結構時，電子被散射的多，因此投射到熒光屏上的電子少而呈暗像，電子照片上則呈黑色。稱電子密度高（electron dense）。反之，則稱為電子密度低（electron lucent）。

　　從所提到的一切來看，顯然沒有“更好”的技術；這完全取決於需要的分析類型。 當用戶想要從樣品內部結構獲得信息時，透射電鏡（TEM）是最佳的選擇，而當需要樣品表麵信息時，掃描電鏡（SEM）是首選。 當然主要決定因素是兩個係統之間的巨大價格差異，以及易用性。 透射電鏡（TEM）可以為用戶提供更多的分辨能力和多功能性，但是它們比掃描電鏡（SEM）更昂貴且體型較大，需要更多操作技巧和複雜的前期製樣準備才能獲得滿意的結果。