簡單介紹掃描電鏡的應用範圍及應用領域

        掃描電子顯微鏡的英文全稱為Scanning Electron Microscope，簡稱掃描電鏡或者SEM。掃描電鏡是一種用於放大並觀察物體表麵結構的電子光學儀器。掃描電鏡由鏡筒、電子信號的收集和處理係統、電子信號的顯示和記錄係統、真空係統和電源係統等組成，具有放大倍數可調範圍寬、圖像分辨率高和景深大等特點。掃描電鏡能用來做什麽呢？請看小編下麵的介紹吧：

SS-150掃描電鏡

        一、觀察納米材料

        尺寸在0.1nm-100nm範圍內 掃描電鏡重要特點是具有很高的分辨率

        二、材料斷口的分析

        景深大，圖象富立體感，焦深比透射電子顯微鏡大10倍，比光學顯微鏡大幾百倍。掃描電鏡顯示出來的斷口形貌從深層次，高景深的角度呈現材料斷裂的本質，在教學、科研和生產中，有不可替代的作用。

        三、直接觀察原始表麵

        直接觀察直徑80mm,高35mm,或更長尺寸的試樣，對試樣的形狀沒有任何限製，粗糙表麵也能觀察，這便免除了製樣的麻煩，而且能真實觀察試樣本身物質成分不同的襯度（背反射電子象）。

        四、觀察厚試樣

        其在觀察厚試樣時，能得到高的分辨率和最真實的形貌。掃描電子顯微鏡的分辨率介於光學顯微鏡和透射電子顯微鏡之間，但在對厚塊試樣的觀察進行比較時，因為在透射電子顯微鏡中還要采用複膜方法，而複膜的分辨率通常隻能達到10nm，且觀察的不是試樣本身，因此，用掃描電鏡觀察厚塊試樣更有利。

        五、觀察各個區域的細節

        其他方式顯微鏡的工作距離通常隻有2-3cm,故實際上隻許可試樣在兩度空間內運動，但在掃描電鏡中則不同，可以讓試樣在三度空間內6個自由度運動，且可動範圍大，這對觀察不規則形狀試樣的各個區域帶來極大方便。

        六、從高到低倍的連續觀察

        掃描電鏡的放大倍數範圍很寬（從30到15萬連續可調），且一次聚焦好後即可從高倍到低倍、從低倍到高倍連續觀察，不用重新聚焦，這對進行事故分析特別方便。

        七、觀察生物試樣

        因電子照射而發生試樣的損傷和汙染程度很小。同其他方式的電子顯微鏡比較，因為觀察時所用的電子探針電流小，電子探針的束斑尺寸小，能量小，而且不是固定一點照射試樣

        以上就是掃描電鏡的應用範圍,由於掃描電鏡具有上述特點和功能，所以越來越多受到科研人員的重視，用途日益廣泛。現在掃描電鏡已廣泛用於材料科學、冶金、生物學、醫學、半導體材料與器件、地質勘探、病蟲害的防治、災害鑒定、寶石鑒定、工業生產中的產品質量鑒定及生產工藝控製等。