X射線熒光測厚儀、熒光膜厚儀(XRF)介紹

    X射線熒光(XRF)測厚儀，簡稱熒光測厚儀、熒光膜厚儀，是在很多領域被廣泛應用的高精度儀器，那麽什麽是XRF呢? XRF,X射線熒光光譜分析法(X Ray Fluorescence),利用初級X射線光子或其他微觀察離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光而進行物質成分分析和化學態研究的方法。XRF鍍層測厚儀又是什麽呢？下麵且看小編的介紹吧：

    XRF熒光測厚儀俗稱X射線熒光測厚儀、熒光測厚儀、熒光膜厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等，主要用於精密測量金屬電鍍層的厚度。比如金屬鍍層黄色网站草莓视频，PCB線路板鍍層分析等。

    XRF熒光測厚儀原理是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線隻有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鍾內完成。

    XRF熒光測厚儀應用領域主要集中在：電路板、端子連接器、LED、半導體、衛浴潔具、五金電鍍、珠寶首飾、汽車配件、黄色网站草莓视频機構以及研究所和高等院校等；

    隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術後，采用X射線熒光(XRF)熒光測厚儀,向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測試精度可達0.001 μm，測量多鍍層分析，1～5層，有了大幅度的提高。它適用範圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用最廣泛的測厚儀器。